| 产品特性：台式 | 是否进口：否 | 产地：美国 |
| 加工定制：是 | 类型：镀层测厚仪 | 品牌：博曼（Bowman) |
| 型号：BA-100-O | 测量范围：0-100mm | 显示方式：液晶显示器 |
| 电源电压：110-240V | 外形尺寸：450*450*600mm |
博曼BA-100毛细管高精度镍钯金X荧光测厚仪，O系列可满足以下类型用户的需求：
极小的样品，如半导体，连接器或PCB
需要测试多个样品的多个位置
需要测量非常薄的涂层（<100nm）
需要在短时间内完成测量（1-5秒）
***符合IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497
O系列 结合了高性能和小X射线光斑尺寸。 这可以通过多毛细管聚焦光学系统实现，该系统取代了安装在标准Bowman系统中的准直器组件。 光学器件设计用于将来自管出口窗口的X射线聚焦到非常小的光斑尺寸（80μmFWHM），同时保持几乎100％的管通量。 因此，与准直器系统的情况一样，聚乙烯毛细管光学组件几乎不允许来自管的所有X射线到达样品，而不是衰减不能穿过小孔的X射线。 结果对于测试非常小的部件或薄涂层具有更高的灵敏度。 在比较光学系统与类似尺寸的准直器时，更短的测试时间可以实现更好的可重复性。
该系列采用80μm毛细管光学结构，同时配备可处理更高计数速率的高分辨率SDD硅漂移探测器。与 P系列其他型号相比，O系列的相机具有更大的放大倍数，45x视频放大和5x数码变焦。一个可编程的XY样品台也是标准配置。O系列的焦距非常接近，所以使用时样品必须平整。
性能表现
| 镍钯金 | 化学镍 | ||||
|---|---|---|---|---|---|
| μmAu | μmPd | μmNi | μmNiP | μm％P | |
| Ave | 0.043 | 0.08 | 3.72 | 10.202 | 10.17 |
| StdDev | 0.0005 | 0.0009 | 0.00010 | 0.1089 | 0.29 |
| Range | 0.0015 | 0.0030 | 0.040 | 0.3863 | 0.9900 |
| %RSD | 1.05% | 1.13% | 0.03% | 1.07% | 2.85% |
产品规格
| X射线管： | 50 W 钼靶射线管 80um毛细管光学结构 |
| 探测器： | 135eV分辨率的硅漂移探测器 |
| 分析层数 及元素数： | 5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素 |
| 滤波器/准直器： | 2位置一次滤波器 |
| 焦距： | 固定在0.1“（0.254mm） |
| 数字脉冲处理： | 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 |
| 计算机： | 英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位 |
| 相机： | 1 / 4“（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率，带双摄像头的250X或45上带单摄像头的15X”屏幕 |
| 视频放大倍率： | 45x：配备双摄像头50x：15上的单摄像头“屏幕 |
| 电源： | 150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz |
| 工作环境： | 温度介于68°F（20°C）与77°F（25°C）之间，相对湿度小于98％，无冷凝 |
| 重量： | 53kg |
| 可编程XY平台： | 表大小：381mm（15“）x 340mm（13”）| 行程：152mm（6“）x 127mm（5”） 现在可用 扩展 舞台选择 |
| 样品仓尺寸： | 高度：140mm（5.5"），宽度：310mm（12"），深度：340mm（13"） |
| 外形尺寸： | 高度：450mm（18"），宽度：450mm（18"），深度：600mm（24"） |
