Bowman膜厚测试仪具有***检测技术和***的软件，该软件使系统还可以确定样品中存在的元素。 我们的XRF仪器可同时测量多达五层，所有涂层都可以是合金，也可以测量HEA（高熵涂层）。

通过微焦点相机对准***光学轴线选择样品的测试区域。 由聚焦激光控制的平台能容纳不同高度的样品。

Bowman XRF涂层测量系统符合行业对精度，可靠性和易用性的最严格要求。 紧凑，符合人体工程学的设计使分析便于每个应用 - ***价格可以快速实现投资回报。

Bowman膜厚测试仪全系列产品满足用户不同的测量需求

G系列 珠宝业的过渡金属分析

B系列 小型电镀样品

P系列 “多面手”，适用于电子，常规电镀，贵金属

O系列 较大测量点的薄膜分析

M系列 采用?-spot多导毛细管技术，分析极小测量点的薄膜

L系列 大型电镀样品

W系列 用于测量微电子领域的最小特征

Bowman膜厚测试仪智能化设计，强大的分析

几秒内完成金属镀层无损分析

成分分析最多可分析25种元素

同时测量多达五个涂层，所有涂层都可以是合金

基础参数法-半定量分析厚度与成分

轻松设置和操作 - 一根USB完成连接

Bowman膜厚测试仪简洁的前控制面板

占地面积小，节约空间

轻量化设计，方便挪动

Bowman膜厚测试仪直观的用户界面

提供分析灵活性，同时减少用户出错机会

基于.Net框架 Xralizer 软件

直观的图标引导用户界面

强大的定性/无标样分析功能

功能强大的标准片库

可定制快捷键，方便操作

灵活的数据显示和导出

强大的报告编辑生成器

性能，强大，便利

• Bowman膜厚测试仪紧密耦合的几何设计***提高测量效率和精度

• 经验证的固态探测器可提供更高的分辨率，稳定性和灵敏度

• 仪器预热时间短，***管灯丝寿命长

• 可实现银、锡的L线薄膜分析

• 多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择

• 灵活的焦距为复杂形状或厚度较大的样品提供测量便利

• 模块化组件设计，维护简单