| 产品特性：台式 | 是否进口：否 | 产地：美国 |
| 加工定制：是 | 类型：镀层测厚仪 | 品牌：博曼（Bowman) |
| 型号：BA-100-W | 测量范围：0-100mm | 显示方式：液晶显示屏 |
| 电源电压：110-240V | 外形尺寸：787*940*990mm |
W系列微型XRF 使用多毛细管光学技术将***束聚焦到7.5μmFWHM，这是世界上最小的光束尺寸，用于使用XRF技术进行涂层厚度分析。 这使其成为测量BGA和较小焊料凸点等样品的理想选择。 150X放大相机用于测量该尺度的特征; 它配有一个二级低倍率相机，用于实时观看样品和鸟眼宏观成像。 Bowman的双摄像头系统让操作员可以看到整个部件，点击图像使用高磁力摄像头进行缩放，并***要编程和测量的功能。
每个轴***到小于+/-1μm的可编程XY平台用于选择和测量多个点; Bowman模式识别软件和自动对焦功能也可以自动执行此操作。 系统的3D映射功能可用于查看诸如硅晶片的部件上的涂层的形貌。
W系列仪器的标准配置包括7.5μm钼靶光学结构（可选铬和钨）和高分辨率、大窗口硅漂移探测器，该探测器每秒可处理超过2百万次计数。
W系列Micro XRF是Bowman XRF仪器套件中的7th型号。 与投资组合中的其他产品一样，它同时测量5涂层，并运行***的Xralizer软件，从检测到的光子中量化涂层厚度。 Xralizer软件将直观的视觉控制与省时的快捷方式，广泛的搜索功能和“一键式”报告相结合。 该软件还简化了用户创建新应用程序的过程。
W系列Micro XRF是最理想的选择 公司：
需要检测晶圆，引线框架，PCBs
需要快速测量多个样品的多个点
期望在多个样品上实现自动化测量
需要遵守IPC-4552A，4553A，4554和4556
ASTM B568，DIN 50987和*** 3497
产品规格
| ***管： | 50W钼靶射线管 7.5um毛细管光学结构 可选：Cr或W |
| 探测器： | 优于135eV分辨率的大窗口硅漂移探测器 |
| 焦距： | 固定在0.02“（0.05mm） |
| 视频放大倍率： | 150X与20“（508mm）屏幕上的微视图相机（可达600x数码变焦） 10?20倍宏观摄像头 |
| 工作环境： | 温度介于68°F（20°C）与77°F（25°C）之间，相对湿度小于98％，无冷凝 |
| 重量： | 190kg（420lbs） |
| 可编程XYZ平台： | XYZ行程：300mm（11.8“）x 400mm（15.7”）x 100mm（3.9“） XY桌面：305mm（12“）x 406mm（16”） X轴准确度：2.5um（100u“）; X轴***度：1um（40u“） Y轴准确度：3um（120u“）; Y轴***度：1um（40u“） Z轴准确度：1.25um（50u“）; Z轴***度：1um（40u“） |
| 元素测量范围： | 13号铝元素到92号铀元素 |
| 分析能力： | 5层（4层+基材）每层分析10种元素， 成分分析最多可同时分析25种元素 |
| 滤波器： | 4位置一次滤波器 |
| 数字脉冲处理： | 4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正 |
| 处理器： | 英特尔，酷睿i5 3470处理器（3.2GHz），8GB DDR3内存， 微软 Windows 10专业版，64位 |
| 相机： | 1 / 4“（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率 |
| 视频放大倍率： | 150X：在20“屏幕上使用微视图相机（最多600x数码变焦）10~20X：使用宏观相机 |
| 电源： | 150W，100?240V; 频率范围为47Hz到63Hz |
| 尺寸（高x宽x深）： | 样品仓尺寸：735mm（29“）x 914mm（36”）x 100mm（4“） 外形尺寸：940mm（37“）x 990mm（39”）x 787mm（31“） |
| 其他新特征： | Z轴防撞阵列 自动聚焦和自动镭射 模式识别 ***的自定义数据调用 |
