| 产品特性：台式 | 是否进口：否 | 产地：美国 |
| 加工定制：否 | 类型：镀层测厚仪 | 品牌：博曼 |
| 型号：BA-100-O | 测量范围：0-110mm | 显示方式：显示屏 |
| 电源电压：220V | 外形尺寸：450*600mm |
博曼XRF的主要特点
无损检测，无需准备过多测量样品
快速测量，数秒出测量结果
操作简单，上手容易
适应不同类型的基体样品
可对大样品上的细微特征做小***分析
同时分析多种金属元素
受工业认证机构认可
XRF探测器
在XRF设备中，不同探测器性能的比较
封气正比计数器
高基线噪音
分辨率差
受气温和湿度影响
经常需要重新校准
Si-PIN半导体探测器
低噪音水平
高分辨率
检出限大
半导体冷却：非常稳定且不受气候影响
SDD硅漂移探测器
***基线噪音
计数检测
分辨率
检出限
***的元素测量范围
半导体冷却：非常稳定且不受气候影响
所有Bowman XRF仪器都使用硅探测器，以获得分辨率，***噪音水平和的整体稳定性。
确保实现最***的镀层厚度测量和元素分析。
