深圳市鼎极天电子有限公司
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金厚测试仪 X荧光射线膜厚分析仪
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金厚测试仪 X荧光射线膜厚分析仪

拥有多种Filter选择性各种样品单层至多层(5层),合金膜厚与溶液均可量测***自动定位分析光径对准全自动化多重统计显示视窗与报告编辑应用?2D/3D,任意位置量测控制?Y轴全自动控制雷射对焦与自动定位系统多种机型选择X-ray运作待命(睡眠)控制温控稳定延长校准时效

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    广东 深圳 宝安区 松岗大道7号汉海达大厦二楼
产品特性:台式是否进口:否产地:韩国
加工定制:是类型:镀层测厚仪品牌:Micro Pioneer
型号:XRF-2000测量范围:0-100mm显示方式:液晶显示屏
电源电压:110-240V外形尺寸:610*670*490mm

金厚测试仪 X荧光射线膜厚分析仪详细介绍

X 螢光射線膜厚分析儀

Micro Pioneer XRF-2000介绍:


1:相容 Microsoft Windows 作業系統之軟體 

2:使用X螢光射線可作非接觸非破壞快速分析膜厚

3: 擁有多種Filter選擇性 各種樣品單層至多層(5層),合金膜厚與溶液均可量測 

4:定點自動定位分析 光徑對準全自動化 影像重疊功能 自動顯示量測參數 彩色區別量測數據 多重統計顯示視窗與報告編輯應用

5: 2D/3D, 任意位置量測控制 ? Y軸全自動控制 雷射對焦與自動定位系統 

6:多種機型選擇 X-ray 運作待命(睡眠)控制 溫控穩定延長校準時效

7: 全進口美日系零件價格優勢及服務時效快速。


Micro Pioneer XRF-2000详细参数如下:






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