| 产品特性：精准 | 是否进口：否 | 产地：美国 |
| 加工定制：是 | 品牌：博曼 | 型号：膜厚仪B系列P系列W系列 |
| 类型：多元素分析仪器 | 测试范围：元素13-92 | 测量时间：20秒 |
| 测量精度：0.01 | 电源电压：220VHZ | 适用范围：电路板，半导体，连接器，汽车，五金等制造厂商及高校，科研机构，质量检测中心等 |
全系列产品满足用户不同的测量需求
· G系列 珠宝业的过渡金属分析
· B系列 小型电镀样品
· P系列 “多面手”，适用于电子，常规电镀，贵金属
· O系列 较大测量点的薄膜分析
· M系列 采用?-spot多导毛细管技术，分析极小测量点的薄膜
· L系列 大型电镀样品
· W系列 用于测量微电子领域的小特征
几秒内完成金属镀层无损分析
· 同时测量多达五个涂层，所有涂层都可以是合金
· 轻松设置和操作 - 一根USB完成连接
· 占地面积小，节约空间
· 直观的用户界面
· 基于框架 Xralizer 软件
· 强大的定性/无标样分析功能
· 可定制快捷键，方便操作
· 强大的报告编辑器
紧密耦合的几何设计*提高测量效率和精度
· 仪器预热时间短，X射线管灯丝寿命长
· 多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择
· 模块化组件设计，维护简单
